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        1. 安賽斯(北京)科技有限公司
          中級(jí)會(huì)員 | 第6年

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          • 美國(guó)中小型水浸式超聲C掃描系統(tǒng)

            名稱:美國(guó)中小型水浸式超聲C掃描系統(tǒng) 型號(hào):UPK-T10,UPK-T24,UPK-T36,UPK-T48,UPK-T60,UPK-T72等。 產(chǎn)地:美國(guó) 應(yīng)用...

            型號(hào): UPK-T24 所在地:國(guó)外參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/6/17 15:36:12 對(duì)比
            水浸超聲C掃描系統(tǒng)超聲檢測(cè)水浸超聲無損檢測(cè)復(fù)合材料檢測(cè)
          • 水浸式超聲C掃描系統(tǒng)

            水浸超聲C掃描系統(tǒng),是新一代數(shù)字化、模塊化、計(jì)算機(jī)插卡式的超聲探傷及A/B/C掃描成像系統(tǒng)。具有高速、高精度、高清晰圖像分辨率及大頻寬等特性。 水浸式超聲C掃描...

            型號(hào): UPK-T24 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/4/16 14:41:04 對(duì)比
            超聲波掃描顯微鏡失效分析超聲探傷無損檢測(cè)分層缺陷
          • 三維云紋干涉儀

            三維云紋干涉儀:該設(shè)備用于測(cè)量試件在機(jī)械或熱載荷作用下的三維熱機(jī)械變形場(chǎng)(面內(nèi)的U,V場(chǎng)和離面的W場(chǎng))。在電子封裝領(lǐng)域,該設(shè)備是重要的失效分析手段。

            型號(hào): 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/4/1 12:56:23 對(duì)比
            干涉儀安賽斯
          • 立式光彈測(cè)試儀

            立式光彈測(cè)試儀:光彈系數(shù)測(cè)試儀(ANA6000P-V)是應(yīng)用偏振光干涉原理對(duì)應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進(jìn)行實(shí)驗(yàn)應(yīng)力測(cè)試的儀器,簡(jiǎn)稱光彈儀。...

            型號(hào): ANA6000P-... 所在地:北京市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/3/14 15:07:34 對(duì)比
            立式光彈儀安賽斯ANA6000P-V
          • 聲發(fā)射系統(tǒng)主機(jī)

            聲發(fā)射系統(tǒng)主機(jī):通用性的PCI插槽式系統(tǒng),提供大的整機(jī)性能,方便的一機(jī)多系統(tǒng),增強(qiáng)了用戶的自主選擇。一般可以插4、6、14塊卡,用于PCI-8卡可構(gòu)成多32、4...

            型號(hào): 所在地:北京市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/3/1 11:36:47 對(duì)比
            聲發(fā)射系統(tǒng)航空航天檢測(cè)石油化工檢測(cè)橋梁混凝土檢測(cè)能源電力檢測(cè)
          • 臥式光彈系數(shù)測(cè)試儀

            臥式光彈系數(shù)測(cè)試儀(ANA6000P-H)是應(yīng)用偏振光干涉原理對(duì)應(yīng)力作用下能產(chǎn)生人工雙折射材料做成的力學(xué)構(gòu)件模型進(jìn)行實(shí)驗(yàn)應(yīng)力測(cè)試的儀器,簡(jiǎn)稱光彈儀。應(yīng)用它可以通...

            型號(hào): ANA6000P-... 所在地:北京市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2024/3/1 11:31:09 對(duì)比
            無損檢測(cè)安賽斯ANA6000P-H
          • 水浸式超聲C掃描系統(tǒng)

            水浸超聲C掃描系統(tǒng),是新一代數(shù)字化、模塊化、計(jì)算機(jī)插卡式的超聲探傷及A/B/C掃描成像系統(tǒng)。具有高速、高精度、高清晰圖像分辨率及大頻寬等特性。主要用于高分子材料...

            型號(hào): UPK-T10 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/8/3 17:03:48 對(duì)比
            超聲波掃描顯微鏡失效分析超聲探傷無損檢測(cè)分層缺陷
          • 高分辨率X射線三維檢測(cè)系統(tǒng)

            FF70 CL 高分辨率X射線三維檢測(cè)系統(tǒng)適用于全自動(dòng)分析最小缺陷的高分辨率二維和三維X射線系統(tǒng)。

            型號(hào): FF70 CL 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/8/3 16:56:30 對(duì)比
            高分辨率三維X射線 FF70 CL高分辨率二維X射線
          • 微焦點(diǎn)X射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)

            名稱:德國(guó)微焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系統(tǒng)Y Cheetah EVO型號(hào):Y Cheetah EVO系列產(chǎn)地:德國(guó)應(yīng)用:主要用于檢測(cè)電子線路板,半導(dǎo)體產(chǎn)品、微電子元件及電路...

            型號(hào): Y Cheetah... 所在地:國(guó)外參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/8/3 16:41:50 對(duì)比
            X射線實(shí)時(shí)成像系統(tǒng)X射線檢測(cè)微焦點(diǎn)X光機(jī)無損檢測(cè)射線檢測(cè)
          • 德國(guó)超聲波掃描顯微鏡

            名稱:德國(guó)超聲波掃描顯微鏡型號(hào):V-400E 產(chǎn)地:德國(guó)應(yīng)用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開裂;晶圓的傾斜;各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…...

            型號(hào): V 400E 所在地:北京市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/8/3 16:39:03 對(duì)比
            超聲波掃描顯微鏡失效分析超聲探傷無損檢測(cè)分層缺陷
          • 德國(guó)超聲波掃描顯微鏡

            名稱:德國(guó)超聲波掃描顯微鏡型號(hào):V-700E 產(chǎn)地:德國(guó)應(yīng)用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開裂;晶圓的傾斜;各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…...

            型號(hào): V-700E 所在地:北京市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/8/3 16:17:18 對(duì)比
            超聲波掃描顯微鏡失效分析超聲探傷無損檢測(cè)分層缺陷
          • 計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)

            FF35 CT 計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)非常適合檢查您的中小型產(chǎn)品:電子元件如SMD,導(dǎo)體封裝,材料探針(如金屬,塑料,CFRP),系統(tǒng),MEMS,MOEMS,療器械...

            型號(hào): FF35 CT 所在地:國(guó)外參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/8/3 15:39:49 對(duì)比
            高分辨率微焦點(diǎn)CT系統(tǒng)X射線檢測(cè)微焦點(diǎn)X光機(jī)無損檢測(cè)射線檢測(cè)
          • 高分辨三維X射線檢測(cè)系統(tǒng)

            FF65 CL 高分辨三維X射線檢測(cè)系統(tǒng)用于對(duì)三維集成電路、微機(jī)電系統(tǒng)和傳感器中最小和苛刻的功能進(jìn)行自動(dòng)分析。

            型號(hào): FF65 CL 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/8/3 15:36:48 對(duì)比
            高分辨三維X射線 FF65 CLIC包裝缺陷檢查
          • 超聲波探傷儀

            V-700E超聲波探傷儀應(yīng)用:晶圓面處分層缺陷;錫球、晶圓、或填膠中的開裂;晶圓的傾斜;各種可能之孔洞(晶圓接合面、錫球、填膠…等)

            型號(hào): V-700E 所在地:北京市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2023/8/3 15:15:01 對(duì)比
            超聲波掃描顯微鏡失效分析超聲探傷無損檢測(cè)分層缺陷
          • 掌上聲發(fā)射系統(tǒng)Pocket-AE

            PocketAE-PowerTM(PAP)為基于30年的超聲儀器研發(fā)、生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)及多年的與美國(guó)EPRI及美國(guó)多家電力公司合作研究、應(yīng)用成果上開發(fā)的,具有自創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)...

            型號(hào): 所在地:北京市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/9/14 15:47:28 對(duì)比
            聲發(fā)射系統(tǒng)石油化工檢測(cè)橋梁混凝土檢測(cè)巖石檢測(cè)
          • Express8聲發(fā)射系統(tǒng)

            Express8是公司新研發(fā)的基于PCI-Express總線的聲發(fā)射采集卡。采用全新的Express總線技術(shù),遠(yuǎn)高于PCI、VMI及USB總線處理速度。

            型號(hào): -- 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/1/13 12:59:35 對(duì)比
            聲發(fā)射系統(tǒng)無損檢測(cè)巖石檢測(cè)橋梁檢測(cè)能源檢測(cè)
          • SAMOS聲發(fā)射系統(tǒng)

            SAMOS聲發(fā)射系統(tǒng)是第三代全數(shù)字化系統(tǒng),其核心是并行處理PCI總線的聲發(fā)射功能卡-PCI-8板,在一塊板上具有8個(gè)通道的實(shí)時(shí)聲發(fā)射特征提取、波形采集及處理的能...

            型號(hào): 所在地:北京市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/1/13 12:55:26 對(duì)比
            聲發(fā)射系統(tǒng)無損檢測(cè)
          • PCI-2聲發(fā)射系統(tǒng)

            PCI-2聲發(fā)射系統(tǒng)是新研制的適用于大學(xué)等聲發(fā)射研究的高性能/低價(jià)位聲發(fā)射采集卡(系統(tǒng))

            型號(hào): -- 所在地:北京市參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2021/1/13 12:51:30 對(duì)比
            聲發(fā)射檢測(cè)無損檢測(cè)
          • 美國(guó)大型水浸超聲C掃描檢測(cè)系統(tǒng)

            名稱:美國(guó)大型水浸超聲C掃描檢測(cè)系統(tǒng)品牌/產(chǎn)地:美國(guó)型號(hào):T156,T240,T264,T480應(yīng)用:進(jìn)行高分子材料、復(fù)合材料、靶材、焊縫、構(gòu)件內(nèi)部分層、脫粘、...

            型號(hào): T156 所在地:國(guó)外參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2020/7/6 15:31:47 對(duì)比
            水浸超聲C掃描系統(tǒng)超聲檢測(cè)水浸超聲無損檢測(cè)復(fù)合材料檢測(cè)
          • 中小型水浸式超聲C掃描系統(tǒng)

            中小型水浸式超聲C掃描系統(tǒng),是新一代數(shù)字化、模塊化、計(jì)算機(jī)插卡式的超聲探傷及A/B/C掃描成像系統(tǒng)。具有高速、高精度、高清晰圖像分辨率及大頻寬等特性。主要用于高...

            型號(hào): UPK-T36 所在地:香港特別行政區(qū)參考價(jià): 面議更新時(shí)間:2020/5/7 14:28:41 對(duì)比
            超聲波掃描顯微鏡失效分析超聲探傷無損檢測(cè)分層缺陷

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